| Hafta | Konu | Ön Hazırlık | Dökümanlar |
| 1 |
Karakterizasyon Tekniklerine Giriş
|
|
|
| 2 |
Optik Mikroskopta Görüntü oluşumu
|
|
|
| 3 |
Işığın Girişimi ve Polarizasyonu, Polarize ışık mikroskobu
|
|
|
| 4 |
X Işınlarının Girişimi, XRD, XRF, XPS
|
|
|
| 5 |
X Işınlarının Girişimi, XRD, XRF, XPS
|
|
|
| 6 |
X Işınlarının Girişimi, XRD, XRF, XPS
|
|
|
| 7 |
TG- DTA, DSC
|
|
|
| 8 |
Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM), SEM-EDX, SEM-WDX
|
|
|
| 9 |
Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM), SEM-EDX, SEM-WDX
|
|
|
| 10 |
FI-IR, Raman Spektrometresi, Tane Boyutu Ölçümü Yöntemleri
|
|
|
| 11 |
FI-IR, Raman Spektrometresi, Tane Boyutu Ölçümü Yöntemleri
|
|
|
| 12 |
FI-IR, Raman Spektrometresi, Tane Boyutu Ölçümü Yöntemleri
|
|
|
| 14 |
Uygulama veya Konu Tekrarı
|
|
|